可作為加工中心、各種機床、半導體相關設備、3D測量機、檢查設備等幾何精度檢查的母盤。
其表面為精密研磨表面。
由石材製成,不易受溫度變化所影響。
可作為加工中心、各種機床、半導體相關設備、3D測量機、檢查設備等幾何精度檢查的母盤。
其表面為精密研磨表面。
由石材製成,不易受溫度變化所影響。
可作為加工中心、各種機床、半導體相關設備、3D測量機、檢查設備等幾何精度檢查的母盤。
其表面為精密研磨表面。
由石材製成,不易受溫度變化所影響。
可作為加工中心、各種機床、半導體相關設備、3D測量機、檢查設備等幾何精度檢查的母盤。
其表面為精密研磨表面。
由石材製成,不易受溫度變化所影響。
產品編號 | 形式 | 尺寸 (L×H×W mm) |
直角度、平行度 (μm) |
側面精度 (μm) |
重量 (kg) |
GC-1001 | 300 | 320×320×60 | 1.0 | 5 | 13 |
---|---|---|---|---|---|
GC-1002 | 500 | 520×520×90 | 2.0 | 10 | 48 |