厚實沉重的機身可應付環境的震動
並可流暢的取得清晰的影像
無樣品高度的限制,可即時裁切試片觀察
倒立式的觀察方式,解決研磨不平的問題
厚實沉重的機身可應付環境的震動
並可流暢的取得清晰的影像
無樣品高度的限制,可即時裁切試片觀察
倒立式的觀察方式,解決研磨不平的問題
搭配原廠OLYMPUS原廠載物台 ,有別於正立式金相顯微鏡的不同
倒立式金相顯微鏡沒有樣本高度的限制 ,無須擔心載放之問題。
玻璃刻劃片觀察比對
可加裝多種金相刻劃片進行比對,如GRAIN SIZE晶粒號數比對。
刻劃片規範依照ASTM E112、JIS G0551、ISO634
載物台觀察鏡
安裝於載物台與物鏡中間,有助於更容易調整觀察目的和目標放大。
也有助於防止碰撞目標與樣品。
本體型號 | GX53 | |
光學系統 | UIS2 無限遠光學補正 | |
顯微鏡本體 | 光路 | 反射光/穿透光(選配) |
照明 | LED光源 OR鹵素光源(選配) | |
Z焦距 | 調整行程: 9 mm 一圈微動: 0.1mm 最小微動: 1 μm |
|
鼻輪 | 電動 OR 手動 | |
觀察視野 | 廣角FN 22mm | 反向:三眼觀察 正向:三眼觀察 |
載物台 | XY行程50X50mm | |
重量 | 28公斤 |